پنجشنبه, ۲۸ تیر, ۱۴۰۳ / 18 July, 2024
مجله ویستا
نانو و فوتوالکترون اشعه ایکس
اسپکتروسکوپی الکترون اوژه (AES) و فوتوالکترون اشعه ایکس(XPS) دو روش عمومی برای تعیین عناصر و حالتهای شیمیایی موجود در nm ۵ سطح نمونه‌های جامد هستند، یعنی ده تا بیست لایه اتمی. از ترکیب این دو روش با اسپاترینگ باریکه یونی تحلیل عمقی تا حدود یک میکرون قابل انجام است که اینها را تبدیل به روشهای کارآمدتری به ویژه در تحقیقات نانوالکترونیک، شیمی، بیومواد و نانوبیومواد، خوردگی و چسبندگی کرده است. کالیبراسیون این دستگاه از اهمیت ویژه ای برخوردار است زیرا برای تحلیل کیفی و کمی صحیح باید داده های کالیبره شده مورد استفاده قرار گیرند.
| عنوان | فایل | |
|---|---|---|
| نانو و فوتوالکترون اشعه ایکس | application/pdf nano va photo electron ashae x.pdf 265 KB |
دانلود |
وایرال شده در شبکه‌های اجتماعی
تعمیرکار درب برقی وجک پارکینگ
دوره‌های مدیریتی دانشگاه تهران
فروش انواع ژنراتور دیزلی با ضمانت نامه معتبر
مسعود پزشکیان ایران دولت چهاردهم محمدجواد ظریف پزشکیان دولت دولت سیزدهم عزاداری علیرضا زاکانی علی باقری رهبر انقلاب رئیس جمهور
پلیس پلیس فتا هواشناسی تهران آلودگی هوا پلیس راهور قتل شهرداری تهران پشه آئدس تیراندازی زلزله گرما
واردات خودرو خودرو حقوق بازنشستگان قیمت خودرو قیمت طلا قیمت دلار بازنشستگان بازار خودرو اربعین دلار قیمت سکه مالیات
تلویزیون سینما فضای مجازی سریال سینمای ایران اوشین امام حسین فیلم فرهاد مشیری لیلی رشیدی بازیگر وزارت ارشاد
مغز محصولات کشاورزی دانشگاه تهران ماه آزمون سراسری
آمریکا جو بایدن دونالد ترامپ ترامپ رژیم صهیونیستی اسرائیل غزه روسیه فلسطین جنگ غزه چین طوفان الاقصی
فوتبال پرسپولیس استقلال علی علیپور مهدی طارمی سپاهان تراکتور باشگاه پرسپولیس علیرضا بیرانوند رئال مادرید لیگ برتر ایران نقل و انتقالات
گوشی اینترنت عیسی زارع پور روزنامه ناسا وزیر ارتباطات و فناوری اطلاعات اپل
سرطان خیار گرمازدگی کاهش وزن سکته قلبی لاغری افسردگی صبحانه